Полное описание

Д9-05/23870
Анфалова, Е. С. Методы измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур : учеб. пособие / Е. С. Анфалова. - М. : МИЭТ, 2005 (М.). - 148 с. - Библиогр.: с. 146. - 300 экз. - ISBN 5-7256-0401-2 : Б. ц. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Моск. гос. ин-т электронной техники (Техн. ун-т)

ГРНТИ	УДК
47.13.81	621.382:658.562

Рубрики:
Полупроводниковые приборы -- Технический контроль

Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (2)
Свободны: ХР (2)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽