Полное описание
>
Сальникова, И. П. Методы определения электрофизических параметров элементов структур МДП-транзисторов / И. П. Сальникова, В. М. Ивкин, Н. Е. Скляров. - Минск : [б. и.], 1991. - 51 c. : ил. - (Серия 47.13.11, Технология и оборудование для производства полупроводниковых приборов и микросхем : обзорная информация / БелНИИНТИ Госэкономплана БССР). - 263 экз. - 4.90 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 46-50 (43 назв.).
ГРНТИ | УДК | |
47.33 | 621.382.323.08 |
Рубрики:
МОП-транзисторы -- Параметры -- Измерение
Кл.слова (ненормированные): моп-транзистор -- параметр -- измерение
Доп. точки доступа:
Ивкин, В.М.
Скляров, Н.Е.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (2)
Свободны: ХР (2)
Заказ фрагмента документа ₽