Полное описание

Д7-90/95810
Бублик, В. Т. Специальные методы изучения и контроля структуры и свойств полупроводников и компонентов электронной техники. Раздел Диффузное рассеяние : курс лекций для спец.20.02 / В.Т.Бублик. - М. : [б. и.], 1990. - 98 с. - 0.55 р. - Текст : непосредственный.
В надзаг.:Моск.ин-т стали и сплавов.Каф.материаловедения полупроводников.Библиогр.:с.97-98(22 назв.).

ГРНТИ	УДК
47.01.77	621.315.592

Рубрики:
Полупроводники -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): полупроводник -- метод -- исследование
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽