Полное описание
>
Зубков, В. И. Методы диагностики структур наноэлектроники и фотоники : учеб. пособие / В. И. Зубков, О. В. Кучерова, А. В. Зубкова ; С.-Петерб. гос. электротехн. ун-т "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина). - СПб. : ЛЭТИ, 2015. - 114 с. : ил. - (Учебное пособие). - Библиогр.: с. 111-112. - 53 экз. - ISBN 978-5-7629-1701-8 : 20 р. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
47.01.81 | 621.384-022.532-044.3 | |
621.383-044.3 |
Рубрики:
Наноэлектронные устройства -- Техническая диагностика
Оптоэлектронные приборы -- Техническая диагностика
Доп. точки доступа:
Кучерова, О.В.
Зубкова, А.В.
Санкт-Петербургский гос. электротехнический ун-т "ЛЭТИ" им. В. И. Ульянова (Ленина)
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽