Полное описание

Д1/17487
Левин, Б. М. Контактный метод измерения микрогеометрии поверхности : основы метода и оптические профилографы / Б. М. Левин, кандидат технических наук ; редактор канд. техн. наук И. М. Сивоконенко. - Москва ; Ленинград : Машгиз, 1950. - 191, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 189-190 (66 назв.). - 3000 экз. - Б. ц. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
55.19.13	621.9.015

Рубрики:
Качество обработанной поверхности

Кл.слова (ненормированные): анализ работы подвесов -- контактные приборы -- элементы конструкций -- лабораторный профилограф -- оптические схемы
Доп. точки доступа:
Сивоконенко, И.М.\ред.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Копия: мкф.

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽