Полное описание
>
Чичерская, А. Л. Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : автореф. дис. ... канд. хим. наук : 02.00.02 / А. Л. Чичерская. - Екатеринбург : [б. и.], 2016. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 23-24. - 100 экз. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
55.22.19 | 621.357.7.08(043) |
Кл.слова (ненормированные): гальванические покрытия -- градуировочные образцы -- послойный элементный анализ>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽