Полное описание

Ар16-4809
Юнин, П. А. Развитие методов вторично-ионной масс-спектрометрии и рентгеновской дифрактометрии для исследования многослойных полупроводниковых гетероструктур : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / П. А. Юнин. - Н. Новгород : [б. и.], 2016. - 20 с. : ил. - Библиогр.: с. 18-20. - 100 экз. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
47.33	621.315.592.9(043)

Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые гетероструктуры -- вторично-ионная масс-спектрометрия
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽