Полное описание
>
Шиколенко, Ю. Л. Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для диагностики электрофизических параметров элементов хранения энергонезависимой памяти : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / Ю. Л. Шиколенко. - М. : [б. и.], 2016. - 35 с. : ил. - Библиогр.: с. 31-35. - 100 экз. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
50.11 | 004.33.076.4(043) |
Кл.слова (ненормированные): запоминающие устройства -- энергонезависимая память>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽