Полное описание

Ар14-3192
Чжо Ко Вин. Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / Чжо Ко Вин. - М. : [б. и.], 2013. - 21 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-21. - 100 экз. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.77:539.16(043)

Кл.слова (ненормированные): интегральные схемы -- влияние ионизирующих излучений -- надежность
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽