Полное описание
>
Яценко, Д. А. Развитие и применение методов моделирования рентгеновских дифракционных картин для структурной диагностики порошковых наноматериалов : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 02.00.04 / Д. А. Яценко. - Новосибирск : [б. и.], 2013. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-22. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
81.09.03 | 620.22-492-022.532(043) |
Кл.слова (ненормированные): порошковые наноматериалы -- структура -- методы исследования
Аннотация: Разработано программное обеспечение для рентгеноструктурного анализа ультрадисперсных систем, базирующееся на универсальных алгоритмах (формуле Дебая и интегрировании в обратном пространстве), отличающееся расширенными возможностями расчета дифракционных картин для неупорядоченных и упорядоченных ансамблей наночастиц, удобным графическим интерфейсом обработки экспериментальных данных, построения и визуализация атомной модели объектов, совместимостью со стандартными базами структурных данных. Программы могут использоваться как при проведении научных исследований, так и для постановки прикладных методик диагностики и аттестации порошковых наноматериалов при их производстве. >
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽