Полное описание

Ар10-25755
Быстров, С. Г. Методология диагностики на наноразмерном уровне локального физико-химического строения поверхности и межфазных слоев полимерных композиционных материалов : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 01.04.01 / С. Г. Быстров. - Ижевск : [б. и.], 2010. - 32 с. : ил. - Библиогр.: с. 28-32. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
61.61.29	678.027.94-022.532.01:541.183(043)

Кл.слова (ненормированные): рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- ик-спектроскопия -- дифрактометрия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽