Полное описание
>
Сысоев, Е. В. Измерение микро- и нанорельефа поверхности методами низкокогерентной интерферометрии : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.05 / Е. В. Сысоев. - Новосибирск : [б. и.], 2010. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 18-19 (9 назв.). - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
59.41.29 | 681.787(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽