Полное описание
>
Гирфанова, Ф. М. Исследование фазовых состояний тонких пленок жидких кристаллов методами атомно-силовой микроскопии : автореф. дис. ... канд. фз.-мат. наук : 01.04.14, 01.04.07 / Ф. М. Гирфанова. - Уфа : [б. и.], 2008. - 24 с. : ил. - Библиогр.: с. 22-24(11 назв.). - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
29.17.25 | 532.783:539.216.2(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽