Полное описание
>
Тамбовский, М. А. Радиоспектроскопический метод и СВЧ спектрометр для неразрушающего контроля электронных поверхностных состояний металлов и полупроводников : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 / М. А. Тамбовский. - Казань : [б. и.], 2006. - 16 с. : ил. - Библиогр.: с. 15-16910 назв.). - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
29.19.31 | 537.311.322:532.6(043) | |
53.49.01 | 669.017:532.6(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽