Полное описание
>
Казанцев, Д. В. Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP : автореф. дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.05 / Д. В. Казанцев. - М. : [б. и.], 2006. - 47 с. : ил. - Библиогр.: с. 45-47. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
29.19.31 | 537.311.322:532.6(043) | |
47.33 | 621.315.592.9(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽