Полное описание

Ар07-сф65
Истомина, Н. Л. Физико-технические основы субмикрометровой дифрактометрии топологии поверхности, модифицируемой в ионно-плазменных процессах : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 01.04.04 / Н. Л. Истомина. - М. : [б. и.], 2006. - 33 с. : ил. - Библиогр.: с. 30-33 (39 назв.). - Текст : непосредственный.
В надзаг.:"МАТИ"- рос. гос. технолог. ун-т им. К.Э. Циолковского

ГРНТИ	УДК
47.13.81	621.3.049.76:658.562(043)

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : СФ (1)
Свободны: СФ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽