Полное описание

Ар06-80
Стемпицкий, В. Р. Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / В.Р. Стемпицкий. - Минск : [б. и.], 2004. - 21 с : ил. - Библиогр.: с. 16-18(27 назв.). - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Белорус. гос. ун-т информатики и радиоэлектроники

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.77-047.84(043)

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽