Полное описание
>
Тягинов, С. Э. Влияние неоднородности толщины диэлектрика на свойства туннельных МОП структур Al(1-4 нм)SiO2/Si : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 / С. Э. Тягинов. - СПб. : [б. и.], 2006. - 18 с. : ил. - Библиогр.: с. 16-18. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
47.33 | 621.382.323(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽