Полное описание
>
Ким, И. В. Комплексная оценка долговечности сварных разрезных подкрановых балок стохастическими и нейросетевыми методами : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.23.01 / И. В. Ким. - Магнитогорск : [б. и.], 2005. - 20 c. : ил. - Библиогр.: с. 19-20(12 назв.). - Текст : непосредственный.
ГРНТИ | УДК | |
67.11.33 | 621.874:624.072.2(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽