Полное описание
>
Усеинов, А. С. Измерение модуля упругости высокотемпературных полупроводниковых материалов и других твердых тел методом сканирующей силовой микроскопии : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 / А. С. Усеинов. - М. : [б. и.], 2004. - 25 с. : ил. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 25(5 назв.)
ГРНТИ | УДК | |
47.09.29 | 621.315.592.08(043) | |
620.172.225(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽