Полное описание

Ар04-6725
Зебрев, Г. И. Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / Г. И. Зебрев. - М. : [б. и.], 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 23-24(26 назв.)

ГРНТИ	УДК
47.33	621.382.323:539.16(043)

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽