Полное описание
>
Офицеров, А. В. Исследование электронных свойств поверхности висмута методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.09 / А. В. Офицеров. - М. : [б. и.], 2003. - 22 с. : ил. - Текст : непосредственный.
В надзаг.:Рос. АН. Ин-т физ. пробл. им. П.Л. Капицы. Библиогр.: с. 21-22(29 назв.)
ГРНТИ | УДК | |
29.19.31 | 537.311.322:532.6(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽