Полное описание

Ар03-5751
Еханин, С. Г. Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов : автореф. дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.07 / С. Г. Еханин. - Томск : [б. и.], 2002. - 43 с. : ил. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 42-43(25 назв.)

ГРНТИ	УДК
31.15.17	548.4(043)
29.19.33	537.226.7(043)

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽