Полное описание

АР98-5348
Мехтиев, М. М. Определение реальных физических параметров полупроводниковых структур методом импульсной фотодефлекционной спектроскопии : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / М. М. Мехтиев. - М. : [б. и.], 1998. - 22 с. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с. 20-22 (16 назв.)

ГРНТИ	УДК
47.33	621.315.592.9.08(043)

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽