Полное описание

АР95-6214
Кютт, Р. Н. Рентгеновская дифрактометрия реальной структуры монокристаллов и эпитаксиальных слоев на основе двумерного анализа интенсивности : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.07 / Р. Н. Кютт. - СПб : [б. и.], 1995. - 39 с. : ил. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Рос.АН.Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. Библиогр.: с.35-39(37 назв.)_

ГРНТИ	УДК
29.19.19	548.73(043)
	539.216.2:548.7(043)

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Копия: мкф.

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽