Полное описание

АР95-3232
Во Тан Лонг. Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / Во Тан Лонг. - СПб : [б. и.], 1995. - 16 с. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: С.-Петербург.гос.электротехн.ун-т им.В.И.Ульянова(Ленина). Библиогр.: с.15-16(5 назв.)

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:54(043)

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Копия: мкф.

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽