Полное описание
>
Вълков, И. Ц. Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук: 05.27.01 / И. Ц. Вълков. - СПб. : [б. и.], 1994. - 16 с. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т. Библиогр.: с.16(3назв.)
ГРНТИ | УДК | |
47.33.31 | 621.3.049.77.001.4(043) | |
47.01.81 |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Копия: мкф.
Заказ фрагмента документа ₽