Полное описание
>
Айрапетян, В. К. Исследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.01 / В. К. Айрапетян. - М. : [б. и.], 1994. - 28 с. : ил. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Всерос. электротехн. ин-т им. В.И.Ленина. Библиогр.:с.28 (6 назв.)
ГРНТИ | УДК | |
47.33 | 621.382.3.026(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Копия: мкф.
Заказ фрагмента документа ₽