Полное описание
>
Якименко, И. Ю. Диагностика структур на основе InGaAs/InP методом комбинационного рассеяния света : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / И. Ю. Якименко. - СПб : [б. и.], 1994. - 17 с. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Рос.АН.Физико-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. Библиогр.: с.16-17(7 назв.)
ГРНТИ | УДК | |
47.33 | 621.315.592.9.001.4(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Копия: мкф.
Заказ фрагмента документа ₽