• ВХОД
  •  

    Полное описание

    АР93-3589
    Рау, Э. И. Локальная диагностика объектов микроэлектроники методами томографии и сканирующей микроскопии : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук: 01.04.01 / Э. И. Рау. - М. : [б. и.], 1993. - 26 с. - Текст : непосредственный.
    В надзаг.: Рос. АН, ЦКБ уникального приборостроения. Библиогр.:с.21-26 (60 назв.)
    ГРНТИ УДК
    47.13.81621.3.049.76:620.179(043)
    Экз-ры полностью АР93-3589
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
    Свободны: ХРЦ (1)
    Копия: мкфш. Шифр МФ



    Заказ фрагмента документа ₽