Полное описание

АР93-3209
Шретер, Ю. Г. Исследование оптических и электрических свойств кристаллов Si и Ge,содержащих дислокации и границы зерен : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ-мат.наук:01.04.10 / Ю. Г. Шретер. - СПб : [б. и.], 1993. - 54 с. : ил. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Рос.АН,Физ-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. Библиогр.: с.48-54

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4(043)

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Копия: мкфш. Шифр МФ

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽