Полное описание
>
Раков, С. В. Автоматизированные методы верификации структуры и анализа тестов цифровых микропроцессорных устройств : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / С. В. Раков. - Л. : [б. и.], 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Ленингр.ин-т точной механики и оптики. Библиогр.: с. 15-16(12 назв.).
ГРНТИ | УДК | |
50.07.07 | 004.3.052.32(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Копия: мкфш. Шифр МФ
Заказ фрагмента документа ₽