Полное описание

АР11-30678
Сошников, А. И. методы измерений электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 / А. И. Сошников. - М. : [б. и.], 2011. - 30 с. : ил. - Библиогр.: с. 28-30 (14 назв.). - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.19.03	538.91-022.532(043)

Кл.слова (ненормированные): наноструктуры -- электрические свойства -- методы измерений
Аннотация: Развитие научных и технических основ применения инденторов из полупроводникового алмаза для измерения механических и электрических свойств материалов. Разработка методов исследования электрических свойств полупроводников и композитных токопроводящих структур. Создание модификации сканирующего нанотвердомера с инденторами из полупроводникового алмаза для измерения тока.
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽