Полное описание
>
Чжу Шичю. Исследование локальных характеристик полупроводниковых структур методом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в растровой электронной микроскопии : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук :01.04.04 / Чжу Шичю. - М. : [б. и.], 2001. - 18 с. + 70 экз. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Физ. фак. Библиогр.: с. 16-18 (11 назв.)
ГРНТИ | УДК | |
47.13.81 | 621.382:658.562(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Заказ фрагмента документа ₽