Полное описание

?-602515880
Stanisavljevic, M. Reliability of nanoscale circuits and systems : methodologies and circuit architectures / M. Stanisavljevic, A. Schmid, Y. Leblebici. - Electronic text data. - Berlin [etc.] : Springer, 2011. - URL: http://www.springer.com/engineering/circuits+%26+systems/book/978-1-4419-6216-4?otherVersion=978-1-4419-6217-1. - Загл. с экрана. - .

ГРНТИ	УДК
47.33.37	621.3.049.771.14.019.3

Кл.слова (ненормированные): большие интегральные схемы -- нанотехнологии -- надежность
Доп. точки доступа:
Schmid, A.
Leblebici, Y.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)
http://www.springer.com/engineering/circuits+%26+systems/book/978-1-4419-6216-4?otherVersion=978-1-4419-6217-1

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽

Просмотр издания