Полное описание

?-443654987
Atom probe microscopy / B. Gault [и др.]. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2012. - (Springer series in materials science , ISSN 0933-033X ; vol. 160). - URL: http://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4614-3436-8. - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-3436-8.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	620.186

Кл.слова (ненормированные): атомная зондовая микроскопия
Доп. точки доступа:
Gault, B.
Moody, M. P.
Cairney, J. M.
Ringer, S. P.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)
http://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4614-3436-8

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽

Просмотр издания