Полное описание

?-335031439
Joy, D. C. Helium ion microscopy. Principles and applications / D. C. Joy. - Electronic text data. - New York, NY [etc.] : Springer, 2013. - (SpringerBriefs in materials, ISSN 2192-1091). - URL: http://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4614-8660-2. - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-8660-2.

ГРНТИ	УДК
31.17.15	546.291-128.04:543.4

Кл.слова (ненормированные): гелий -- ионы -- микроскопия
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)
http://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4614-8660-2

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽

Просмотр издания