Полное описание

???-906914
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices / ed. T. Grasser. - Electronic text data. - Cham : Springer, 2015. - URL: https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-08994-2. - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-319-08994-2.

ГРНТИ	УДК
47.33	621.382.019.3

Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые приборы -- дефекты -- надежность -- горячие носители -- деградация
Доп. точки доступа:
Grasser, T.\ed.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)
https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-08994-2

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽

Просмотр издания