• ВХОД

    •  

    Полное описание

    ???-325914
     Dehbashi, M. Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon / M. Dehbashi, G. Fey. - Electronic text data. - Cham : Springer, 2015. - URL: https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-09309-3. - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-319-09309-3. - DOI 10.1007/978-3-319-09309-3.
    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.771.14

    Кл.слова (ненормированные): большие интегральные схемы -- отладка -- автоматизация -- системы на кристалле -- кремниевые структуры
    Доп. точки доступа:
    Fey, G.
    Экз-ры полностью ???-325914
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
    Свободны: ПНТ (1)



    Заказ фрагмента документа ₽

    Просмотр издания