Полное описание

???-241311/252
Liu, X. Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits / X. Liu, Q. Xu. - Electronic text data. - Heidelberg : Springer, 2014. - (Lecture Notes in Electrical Engineering, ISSN 1876-1119 ; vol. 252). - URL: https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-00533-1. - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-319-00533-1.

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.771.14-048.24

Кл.слова (ненормированные): большие интегральные схемы -- испытание
Доп. точки доступа:
Xu, Q.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)
https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-00533-1

Заказать издание
Заказ фрагмента документа

Просмотр издания