Полное описание

???-044377
Bhushan, M. CMOS Test and Evaluation. A Physical Perspective / M. Bhushan, M. B. Ketchen. - Electronic text data. - New York, NY : Springer, 2015. - URL: https://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4939-1349-7#authorsandaffiliationsbook. - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4939-1349-7.

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.771.14

Кл.слова (ненормированные): большие интегральные схемы -- испытание -- оценка -- кмоп-структуры
Доп. точки доступа:
Ketchen, M.B.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)
https://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4939-1349-7#authorsandaffiliationsbook

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽

Просмотр издания