Электронный каталог

    страница из
    всего найдено записей: 1,
      отображать

    Reliability of Microtechnology : Interconnects, Devices and Systems / by Johan Liu, Olli Salmela, Jussi Sarkka, James E. Morris, Per-Erik Tegehall, Cristina Andersson., 2011 r=on-line (Введено оглавление). - Текст : электронный.