Электронный каталог

страница из

всего найдено записей: 1,
  отображать
10 записей 20 записей 40 записей

Electron and optical beam testing of integrated circuits : Proc.of the 3rd European conf.,Sept.9-11,1991,Como / ed. M. Melgara, 1992. - XII,534 с с. - Текст : непосредственный.