Электронный каталог

    страница из
    всего найдено записей: 1,
      отображать

    Study of surface and volume defects in carbon and silicon by methods of field ion and scanning tunneling microscopy / A.L.Suvorov,Yu.N.Cheblukov,N.E.Laazarev и др., 1998. - 12 p. - Текст : непосредственный.