Bias Temperature Instability for Devices and Circuits / Ed. T. Grasser, 2014 r=on-line. - Текст : электронный.
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices / ed. T. Grasser, 2015 r=on-line. - Текст : электронный.
Simulation of semiconductor processes and devices 2007 : SISPAD 2007 / ed.: T. Grasser, S. Selberherr, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.