Genzel C. Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur rontgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflachenbereich vielkristalliner Werkstoffe / C.Genzel, 1999. - XIII,232 S. S. - Текст : непосредственный.
Moderne Rontgenbeugung : Rontgendiffraktometrie fur Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker / L. Spiess [et al.], 2009. - Текст : электронный.