Dehbashi M. Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon / M. Dehbashi, G. Fey, 2015 r=on-line. - Текст : электронный.
Ebendt R. Advanced BDD optimization / R. Ebendt, R. Drechsler, G. Fey, 2005 r=on-line
Fey G. Robustness and usability in modern design flows / G. Fey, R. Drechsler, 2008 r=on-line. - Текст : электронный.
Test pattern generation using boolean proof engines / R. Drechsler [et al.], 2009 r=on-line. - Текст : электронный.