Шиколенко Ю.Л. Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для диагностики электрофизических параметров элементов хранения энергонезависимой памяти : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Ю. Л. Шиколенко, 2016. - 35 с. - Текст : непосредственный.