Электронный каталог

    страница из
    всего найдено записей: 3,
      отображать

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Шайблер Г.Э. Исследование электронных свойств поверхности и внутренних границ раздела эпитаксиальных слоев GaAs методом спектроскопии фотоотражения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Г. Э. Шайблер, 2001. - 18 с. - Текст : непосредственный.