Гольдштейн Р.В. Моделирование влияния дефектов кристаллической структуры на сопротивление адгезионному разрушению / Р.В.Гольдштейн,М.Е.Сарычев, 2004. - 52 с. - Текст : непосредственный.
Сарычев М.Е. Нелинейно-диффузионные кинетические модели процессов микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук в форме науч.докл.:05.27.01 / М. Е. Сарычев, 1993. - 53 с. - Текст : непосредственный.